Profilo personale: Davide De Salvador
Davide De Salvador
Corsi
- Docente: Vincenzo Amendola
- Docente: Tiziana Cesca
- Docente: Davide De Salvador
- Docente: Alberta Ferrarini
- Docente: Giovanni Mattei
- Docente: Luca Salasnich
- Docente: Francesco Sedona
The basic principles of HR-XRD and XRR for structural characterization of crystalline
and amorphous thin films will be discussed.
Cystalline layers; Mismatch and strain; Reciprocal space mapping; X-ray kinematical
diffraction theory, X-ray dinamical diffraction theory; X-ray reflectivity;
Some data taking and analysis example will be given.
- Docente: Marco Bazzan
- Docente: Davide De Salvador
- Docente: Vincenzo Amendola
- Docente: Davide De Salvador
- Docente: Alberta Ferrarini
- Docente: Matteo Ambrogio Paolo Pierno
- Docente: Gian-Andrea Rizzi
- Docente: Francesco Sedona
- Docente: Raffaella Signorini
- Docente: Luca Valentini